14.1 Elektrischer Test
Mit dem elektrischen Test kontrollieren wir die Funktionsfähigkeit der Leiterplatte. Anhand von Zweipunktmessungen überprüfen wir sämtliche Verbindungen der Innen- und Außenlagen auf Unterbrechungen und Kurzschlüsse. Die Messungen vergleichen wir mit den Kundendaten (Original-Netzliste). Prüfpunkte sind SMD-Pads, Prüfpads und durchkontaktierte Bohrungen jeden Durchmessers.
Zwei verschiedene elektrische Prüfverfahren stehen zur Verfügung: die Adapterprüfung und der Fingertest (Flying-Probe-Prüfung). Die Auswahl des geeigneten Prüfverfahrens erfolgt anhand des Leiterplattendesigns, der Losgröße und der spezifischen Prüfanforderungen.
In beiden Fällen gilt für das Handling: für automatisierte Aufnahme soll die Außenkontur rechteckig sein – dies ist aber auch für Ihren weiteren Bestückprozess sinnvollerweise nötig!
Adapterprüfsystem
Features & Vorteile
- Kurze Prüfzeit, da alle Prüfpunkte gleichzeitig kontaktiert werden
- Daher für große, wiederkehrende Serien optimal geeignet
Nachteile
- Erstellung eines mehrlagigen Prüfadapters (Bohren mehrerer Prüfnadelführungsplatten)
- Prüffeldgröße eingeschränkt (siehe Tabelle "Vergleich der Prüfmethoden")
- Feinste Rasterstrukturen: Prüfnadeln können nur begrenzt ausgelenkt werden
Fingertestsystem (Flying Probe)
Features & Vorteile
- Rasche Prüfprogrammerstellung (geringe Initialisierungskosten)
- Für Muster und Kleinserien geeignet (auch abhängig von der Anzahl der Prüfpunkte)
- Uneingeschränkte Prüffeldgröße (max. Leiterplattengröße siehe Tabelle "Vergleich der Prüfmethoden")
- Auch feinste Bauteilraster/Pitchabstände prüfbar
Nachteil
- Längere Prüfzeit
| Adapterprüfsystem | Fingerprüfsystem | |
|---|---|---|
| Max. Prüffeldgröße [mm] | 325 x 244 | 610 x 510 |
| Prüfspannung [V] | 35 - 250 | 10 - 1000 |
| Schwellwert für Verbindung | 5 Ω - 1 kΩ | 1 Ω - 10 kΩ |
| Schwellwert für Isolation | 100 kΩ - 100 MΩ | 100 kΩ - 100 GΩ |
Schlechtstück im Nutzen/X-OUTs
Schlagworte
- Flying Probe
- Elektrischer Test
- Adaptertest
- X-Outs
- Prüf- und Messverfahren